1. Usted está aquí:
  2. Inicio
  3. Accesorios de la máquina
  4. Paletas y placas de sujeción

Paletas y placas de sujeción

Con los sistemas de palet ZEISS, el rendimiento en el dispositivo de medición puede aumentar significativamente: mientras el dispositivo está midiendo, la siguiente pieza de trabajo se coloca en otro palet. El palet se puede intercambiar en cuestión de segundos y se puede alinear para la medición sin necesidad de volver a ubicar la pieza. Las placas de rejilla también están disponibles para el montaje seguro de piezas de trabajo en la máquina de medición de coordenadas. Para ello se utilizan accesorios del sistema modular ZEISS.
Leer más sobre Paletas y placas de sujeción
OMEGA SELECT pallet, blank
626109-9514-010
383,80 $IVA no incluido
OMEGA SELECT frame pallet
626109-9514-000
383,80 $IVA no incluido
OMEGA 543 comfort frame pallet, glass
626109-9512-023
1.683,00 $IVA no incluido
OMEGA 543 grid pallet M4 15x15 with temperature interface
626109-9512-037
2.064,00 $IVA no incluido
OMEGA 543 grid pallet, M4 25x25 with temperature interface
626109-9512-036
1.925,90 $IVA no incluido
OMEGA 543 comfort calibration pallet
626109-9512-001
2.345,60 $IVA no incluido
THETA 32 grid pallet, 1/4 and 1/2x1/2
626109-9220-025
821,50 $IVA no incluido
OMEGA 543 frame pallet, glass
626109-9512-020
1.373,70 $IVA no incluido
THETA 32 grid pallet, M6 25x25
626109-9220-021
1.373,70 $IVA no incluido
THETA 55 grid pallet, 1/4 and 1/2x1/2
626109-9220-530
1.912,10 $IVA no incluido
113 Artículos
Use el tiempo de forma productiva

Use el tiempo de forma productiva

Mientras la máquina de medición está cargada, no mide. Este tiempo improductivo se puede reducir al mínimo con palets, ya que las piezas de trabajo se cargan y sujetan lejos del medidor. Un accesorio de 3 puntos se utiliza para alinear la pieza de trabajo de forma rápida y reproducible - con una calibración precisa repetida. Esto hace un mejor uso de la capacidad de la máquina. Con los palets, el rango de medición se puede utilizar plenamente. Están equipadas con esferas de medición de posición fija, y si es necesario también con un calibre de anillo y un estándar de vidrio. Esto permite un posicionamiento estable y preciso- para mediciones donde las micras son importantes.
Coincidencia del dispositivo

Coincidencia del dispositivo

La serie de palets se adaptan al tipo de instrumento de medición. ZEISS THETA: para dispositivos de medición táctiles como ZEISS CONTURA, ACCURA, PRISMO, XENOS, DuraMax, CenterMax y GageMax ZEISS OMEGA: para instrumentos de medición óptica como ZEISS O-INSPECT, O-DETECT u O-SELECT ZEISS GAMMA: para los dispositivos de medición de TC ZEISS METROTOM y VoluMax Para la selección de la paleta, la dimensión de las piezas a medir también es decisiva.