Pallets y placas de sujeción
Con los sistemas de palet ZEISS, el rendimiento en el dispositivo de medición puede aumentar significativamente: mientras el dispositivo está midiendo, la siguiente pieza de trabajo se coloca en otro palet. El palet se puede intercambiar en cuestión de segundos y se puede alinear para la medición sin necesidad de volver a ubicar la pieza. Las placas de rejilla también están disponibles para el montaje seguro de piezas de trabajo en la máquina de medición de coordenadas. Para ello se utilizan accesorios del sistema modular ZEISS.
Test and calibration template, calibrated
600779-0030-010
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CMG Set CONTURA, 1200 X 1800 mm, 2 placas, M6, rejilla de 50 mm
600062-0210-285
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Prisma 120o pequeño
600062-0210-052
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M3 RENISHAW, Disc styli, ceramic disc, tungsten carbide shaft
626113-0503-020
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0144-035
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M5, Extension, ZEISS REACH CFX® 3
626107-2290-100
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Extensión con receptor de cono, ThermoFit Pro
626107-4155-000
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