Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
367,00 USDmás el IVA
Envío en > 30 días hábiles
29.969,00 USDmás el IVA
Envío en > 30 días hábiles
600099-2180-026
- Área de medición X
- 700
- Área de medición Y
- 1000
- Área de medición Z
- 600
0,00 USDmás el IVA