Óptico

El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.

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600099-2710-258
Área de medición X
500
Área de medición Y
500
Área de medición Z
500
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600099-2830-056
600099-2830-056
Área de medición X
900
Área de medición Y
1600
Área de medición Z
800
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626107-7000-963
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600033-0600-075
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604003-5246-000
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600099-2460-018
Área de medición X
500
Área de medición Y
400
Área de medición Z
300
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604003-5233-000
604003-5233-000
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Longitud (L)
1.000,0 mm
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600099-2470-048
600099-2470-048
Área de medición X
300
Área de medición Y
200
Área de medición Z
200
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