Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
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CMG Set CONTURA, 1000 X 1600 mm, 2 placas, M6, rejilla de 50 mm
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
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M3 XXT, Angle piece with cone adapter, titanium
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