Pallets y placas de sujeción

Con los sistemas de palet ZEISS, el rendimiento en el dispositivo de medición puede aumentar significativamente: mientras el dispositivo está midiendo, la siguiente pieza de trabajo se coloca en otro palet. El palet se puede intercambiar en cuestión de segundos y se puede alinear para la medición sin necesidad de volver a ubicar la pieza. Las placas de rejilla también están disponibles para el montaje seguro de piezas de trabajo en la máquina de medición de coordenadas. Para ello se utilizan accesorios del sistema modular ZEISS.

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626115-0300-073
Ø Esfera (DK)
3,0 mm
Longitud (L)
73,0 mm
Ø Eje (DS)
2,4 mm
la medición de la longitud
60,0 mm
material de la punta del lápiz óptico
Tung. Carb
material del eje
Tung. Carb
214,80 USDmás el IVA
 Envío en 2 días hábiles
0,00 USDmás el IVA
 Envío en > 30 días hábiles
583,00 USDmás el IVA
 Envío en > 30 días hábiles
626115-1581-083
Ø Esfera (DK)
15,875 mm
Longitud (L)
83,0 mm
Ø Eje (DS)
6,0 mm
la medición de la longitud
70,0 mm
material de la punta del lápiz óptico
Cerámica
material del eje
Tung. Carb
326,20 USDmás el IVA
 Envío en > 30 días hábiles
6.209,20 USDmás el IVA
 Envío en > 30 días hábiles
626109-9010-000
626109-9010-000
284,30 USDmás el IVA
 Envío en > 30 días hábiles
626107-1240-100
Longitud (L)
240,0 mm
286,80 USDmás el IVA
 Envío en > 30 días hábiles
626107-1280-100
Longitud (L)
280,0 mm
310,50 USDmás el IVA
 Envío en > 30 días hábiles
789,60 USDmás el IVA
 Envío en > 30 días hábiles