Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
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Multi Sensor Rack (MSR) 5+1 pliegue para ZEISS O-INSPECT 322
626100-9382-021
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Rack multisensor (MSR) 3 veces para O-INSPECT 543 y 863
626100-9382-002
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CMG Set CONTURA, 1200 X 2400 mm, 2 placas, M6, rejilla de 50 mm
600062-0210-286
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Kit de referencia RSH-187-M con esfera de referencia
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0254-054
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Gear Check, GEAR® PRO involuto, calibrado
626119-0001-026
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