Pallets y placas de sujeción

Con los sistemas de palet ZEISS, el rendimiento en el dispositivo de medición puede aumentar significativamente: mientras el dispositivo está midiendo, la siguiente pieza de trabajo se coloca en otro palet. El palet se puede intercambiar en cuestión de segundos y se puede alinear para la medición sin necesidad de volver a ubicar la pieza. Las placas de rejilla también están disponibles para el montaje seguro de piezas de trabajo en la máquina de medición de coordenadas. Para ello se utilizan accesorios del sistema modular ZEISS.

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789,60 USDmás el IVA
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626115-2101-083
Ø Esfera (DK)
21,15 mm
Longitud (L)
83,0 mm
Ø Eje (DS)
6,0 mm
la medición de la longitud
70,0 mm
material de la punta del lápiz óptico
Cerámica
material del eje
Tung. Carb
489,90 USDmás el IVA
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626107-1370-100
Longitud (L)
370,0 mm
369,40 USDmás el IVA
 Envío en > 30 días hábiles
626109-0037-000
Longitud (L)
350,0 mm
13,10 USDmás el IVA
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600062-0000-162
600062-0000-162
2,10 USDmás el IVA
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000000-1365-329
000000-1365-329
material de la punta del lápiz óptico
Diamante
1. Ángulo (°)
60,0 °
824,10 USDmás el IVA
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626106-0040-000
Ø Esfera (DK)
30,0 mm
Longitud (L)
55,0 mm
material de la punta del lápiz óptico
Cerámica
694,50 USDmás el IVA
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626161-0007-360
Área de medición X
500
2.134,40 USDmás el IVA
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