Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
THETA 55 Set M10 con paleta de rejilla M6 50x50
626109-9220-620
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Placa de rejilla CMK, vidrio acrílico
600062-0215-036
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Women's Performance Polo Shirt black M
000000-0664-624
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