Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
Women's Performance Polo Shirt white L
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Extension M5-DG11-L205-1x-M5
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Contour Arm
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Women's Performance Polo Shirt black XL
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Paleta de rejilla THETA RT M4 para DuraMax
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Contour Arm
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M5, Palpador en L, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
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