Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
![722041[P] foto del producto](/INTERSHOP/static/WFS/IMT-MX-Site/-/IMT/es_MX/not_available.png)
CMG Set MMZT, 2100 X 3200 mm, 6 placas, M6, rejilla de 50 mm
600062-0210-307
23.368,00 USDmás el IVA
Envío en > 30 días hábiles
10,651 Artículos
- a la página1021-1030de1.066
- a la página1031-1040de1.066
- a la página1041-1050de1.066
- a la página1051de1.066
- a la página1052de1.066
- a la página1053de1.066
- a la página1054de1.066
- a la página1055de1.066
- a la página1056de1.066
- 1057
- a la página1058de1.066
- a la página1059de1.066
- a la página1060de1.066
- a la página1061-1066de1.066
Vistos recientemente
Women's Performance Polo Shirt black M
000000-0664-624
0,00 USDmás el IVA
Envío en > 30 días hábiles
M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-5854-039
64,20 USDmás el IVA
Envío en > 30 días hábiles
58,90 USDmás el IVA
Envío en > 30 días hábiles
233,20 USDmás el IVA
Envío en > 30 días hábiles