Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
Vistos recientemente
M5, Palpador recto, esfera con recubrimiento de diamante, eje de carburo de tungsteno
626115-0029-115
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REACH CFX 1 - Extensión, M5
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