Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
Test and calibration template, calibrated
600779-0030-010
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CMG Set CONTURA, 1200 X 1800 mm, 2 placas, M6, rejilla de 50 mm
600062-0210-285
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Prisma 120o pequeño
600062-0210-052
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Vistos recientemente
M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0454-056
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M5, Palpador en T, escalonado, esfera de nitruro de silicio, eje de carburo de tungsteno
626115-5000-411
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M5, Extension, ZEISS REACH CFX® 3
626107-2750-100
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