Pallets y placas de sujeción

Con los sistemas de palet ZEISS, el rendimiento en el dispositivo de medición puede aumentar significativamente: mientras el dispositivo está midiendo, la siguiente pieza de trabajo se coloca en otro palet. El palet se puede intercambiar en cuestión de segundos y se puede alinear para la medición sin necesidad de volver a ubicar la pieza. Las placas de rejilla también están disponibles para el montaje seguro de piezas de trabajo en la máquina de medición de coordenadas. Para ello se utilizan accesorios del sistema modular ZEISS.

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600099-2190-051
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Área de medición X
700
Área de medición Y
1000
Área de medición Z
600
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604001-4943-000
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604001-2924-000
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600062-0210-052
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600099-2830-059
600099-2830-059
Área de medición X
900
Área de medición Y
1600
Área de medición Z
800
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604006-2300-000
604006-2300-000
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626103-0301-040
Ø Esfera (DK)
3,0 mm
Longitud (L)
40,0 mm
Ø Eje (DS)
2,0 mm
la medición de la longitud
31,0 mm
material de la punta del lápiz óptico
Ruby
material del eje
Carbon Fiber
120,00 USDmás el IVA
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626105-6190-038
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