Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0404-052
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0254-019
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M3 RENISHAW, Disc styli, ceramic disc, tungsten carbide shaft
626113-0503-020
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-5854-040
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M5, T-styli stepped, ruby sphere, tungsten carbide shaft
626115-5000-903
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REACH CFX 1 - Extensión, M5
626107-1100-300
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