Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0254-055
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0304-080
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M5, Extension, ZEISS REACH CFX® 3
626107-2700-100
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626113-0400-033
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0404-088
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626113-0101-022
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0244-045
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