Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
M3 XXT, 1/4 star styli with clamping adapter straight, silicon nitride sphere, carbon fibre shaft
626103-0312-040
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Extensión con receptor de cono, ThermoFit Pro
626107-4100-000
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M3 XXT, Angle piece with cone adapter, titanium
626103-6020-040
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0404-031
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0454-031
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