Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0254-020
58,90 USDmás el IVA
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M5, Punta de palpador, escalonado, esfera de carburo de tungsteno, eje de carburo de tungsteno
626115-5000-203
726,00 USDmás el IVA
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0304-012
58,90 USDmás el IVA
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0504-020
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M3 XXT, Palpador en L con adaptador de abrazadera, recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626113-5000-232
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0144-029
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