Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
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M3 XXT, Angle piece with cone adapter, titanium
626103-6020-039
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626113-0501-100
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0304-033
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0254-016
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CMG Set ACCURA 2, 1200 X 2400 mm, 2 placas, M6, rejilla de 50 mm
600062-0210-309
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THETA 55 Set M10 con paleta de rejilla M6 50x50
626109-9220-620
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Extensión con receptor de cono, ThermoFit Pro
626107-4155-000
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Placa de rejilla CMK, vidrio acrílico
600062-0215-036
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Test and calibration template, calibrated
600779-0030-010
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