Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0304-025
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0404-051
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M3 XXT, Angle piece with cone adapter, titanium
626103-6020-030
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Extensión con receptor de cono, titanio, ThermoFit Pro
626107-6060-000
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Rack multisensor (MSR) para ZEISS XENOS
626100-9372-000
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CMG Set CONTURA, 1200 X 1800 mm, 2 placas, M6, rejilla de 50 mm
600062-0210-285
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M3 XXT, Palpador en L con adaptador de abrazadera, recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626103-0040-416
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