Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
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600099-2180-026
- Área de medición X
- 700
- Área de medición Y
- 1000
- Área de medición Z
- 600
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0454-043
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THETA 55 Set M10 con paleta de rejilla M6 50x50
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Extension M5-DG11-L290-1x-M5
626107-1290-100
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Book Metrology for Aviation Industry EN
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