Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
CMG Set MMZT, 2100 X 4400 mm, 8 placas, M6, rejilla de 50 mm
600062-0210-308
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Vistos recientemente
M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626113-0501-100
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Palpadores sin rosca, palpador con pivote, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
600341-8185-000
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Contour Arm
625006-9246-000
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