Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
CMG Set Spectrum, 700 X 1000 mm, 1 placa, M6, rejilla de 50 mm
600062-0210-315
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Vistos recientemente
M5, Disco, disco esférico cerámico de óxido de aluminio
626101-2001-005
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Tornillo para abrazadera, M3 XXT
626103-6110-005
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
602030-8021-000
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M5, Palpador en L, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626115-5000-642
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