Pallets y placas de sujeción
Con los sistemas de palet ZEISS, el rendimiento en el dispositivo de medición puede aumentar significativamente: mientras el dispositivo está midiendo, la siguiente pieza de trabajo se coloca en otro palet. El palet se puede intercambiar en cuestión de segundos y se puede alinear para la medición sin necesidad de volver a ubicar la pieza. Las placas de rejilla también están disponibles para el montaje seguro de piezas de trabajo en la máquina de medición de coordenadas. Para ello se utilizan accesorios del sistema modular ZEISS.
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626115-2000-083
- Ø Esfera (DK)
- 20,0 mm
- Longitud (L)
- 83,0 mm
- Ø Eje (DS)
- 6,0 mm
- la medición de la longitud
- 70,0 mm
- material de la punta del lápiz óptico
- Cerámica
- material del eje
- Tung. Carb
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- Ø Esfera (DK)
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- Longitud (L)
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- Ø Eje (DS)
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- la medición de la longitud
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