Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
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600099-2180-026
- Área de medición X
- 700
- Área de medición Y
- 1000
- Área de medición Z
- 600
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Vistos recientemente
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M5, Palpador de estrella con cubo, escalonado, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626115-5000-564
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M5, Disco, disco esférico cerámico de óxido de aluminio
626101-2001-005
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