Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
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Paleta de rejilla OMEGA 543, M4 15x15
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Kit de referencia RSH-364 con esfera de referencia DK30
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Paleta de rejilla OMEGA 543 M4 15x15 con interfaz de temperatura
626109-9512-037
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
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