Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
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Soporte de abrazadera ranurado, ajustable, 180 mm
600062-0339-001
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Destornillador de micro par
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Inserto de vidrio de repuesto para palet OMEGA 322
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Extension M5-DG11-L165-1x-M5
626107-1165-100
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Contour Arm
000000-1365-334
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Kit de referencia RSH-compacto con esfera de calibración
600332-9258-000
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