Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
Pack placa espaciadora cerrada 80x0 mm ETV
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Almacenamiento de palpador para ScanMax
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Soporte abatible para sensor de temperatura mini
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TheTA 32 palet de rejilla, M6 25x25
626109-9220-021
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
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Fijación de la pieza D20 D8 - Clip de resorte
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Cojinete de tres puntos para O-INSPECT 322
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