Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
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TheTA 55 paleta de rejilla, M6 50x50
626109-9220-520
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626123-0304-015
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M5, Palpador en L, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
626115-5000-763
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