Óptico

El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.

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Óptico
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Medición de la temperatura
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ZEISS REACH CFX® 3
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Herramientas
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Tuerca de diamante M6
600062-0000-162
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Forma, Superficie, Contorno
Contour Arm
000000-1365-329
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