Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
Kit de mejora RSH, doble cara 180°
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Soporte abatible para sensor de temperatura mini
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
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M3 XXT, 1/4 star styli with clamping adapter straight, silicon nitride sphere, carbon fibre shaft
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M3 XXT, Palpador en T con adaptador de abrazadera, recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
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Soporte abatible mini sin adaptador roscado
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