Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.
Rack multisensor para ZEISS CenterMax, inferior
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Inserto de vidrio de repuesto para palet OMEGA 543
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Structured Brushed Twill Ball Cap white
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Juego de rejilla M6 THETA 32 con mandril
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M5, Palpador en L, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
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M3, Palpador recto, esfera de rubí, eje de carburo de tungsteno
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Extensión con receptor de cono, ThermoFit Pro
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